光分析系装置
紫外可視分光光度計 V-560（日本分光）
紫外可視分光光度計 V-630（日本分光）
分光蛍光光度計 FP-6500（日本分光）
分光蛍光光度計積分球付 FP-8600（日本分光）
積分球付きのため、個体・粉体試料の測定が可能です。
赤外分光光度計 FT/IR-4100（日本分光）
蛍光寿命測定装置 C11367-01（浜松ホトニクス）
物質がパルス光により光励起された後に基底状態に戻るまでの時間を、サブナノ秒～ミリ秒の時間領域で測定する装置です。
三次元光屈折率・膜厚測定装置（プリズムカプラ） SPA-4000（SAIRON Technology）
SiO2, ポリマー、透明樹脂等の光屈折率・光伝搬損失・膜厚を測定する装置です。
アッベ屈折計 NAR-1T（アタゴ）
物質の屈折率を測定する装置です。
振動円偏光二色性測定装置 VFT-4000（日本分光）
FT/IR-4100の拡張ユニット。化合物の光学活性や分子の絶対配置の決定に有用な情報を得ることが可能です。
光分析装置
光学系：ダブルモノクロメーター、ダブルビーム方式
波長範囲：190~900nm
測光範囲： -2~5Abs
検出器：光電子倍増管
光学系：シングルモノクロメーター、ダブルビーム方式
波長範囲：190~1100nm
測光範囲：-2~3Abs
検出器：Siフォトダイオード
光学系：シングルモノクロメーター、ダブルビーム方式
波長範囲：190~1100nm
測光範囲：-2~3Abs
検出器：Siフォトダイオード
波長範囲：200~850nm（励起）及び0次光
200~1010nm（蛍光）及び0次光
光源：150Wキセノンランプ シールドハウス方式
S/N：150以上（P-P）、600以上（RMS）
波長範囲：200~850nm（励起）及び0次光
200~1010nm（蛍光）及び0次光
光源：150Wキセノンランプ シールドハウス方式
S/N：150以上（P-P）、600以上（RMS）
対象サンプル：溶液・薄膜
波長範囲：300~800nm
分光器：ツェルニターナ型モノクロメータ
測定時間レンジ：2.5ns~50μs/ full scale
りん光計測：りん光用励起波長（280 nm、340 nm、370 nm、405 nm、445 nm、470 nm、590 nm、630 nm）から選択
屈折率：1.0-1.8±(0.001) at 405~1550nm
測定可能膜厚範囲：0.4μm~150μm
光伝搬損失：0.01dB/cmまでの微細な損失を検出※試料品質に依存
屈折率測定範囲：1.3000~1.7000
最小目盛り：0.001
紫外近赤外円二色分散計CD J725（日本分光）
右回りと左回りの円偏光の吸収の差を、波長の関数として測定する装置です。光学活性な分子の構造や電子状態、絶対配置に関する情報が得られます。
測定可能領域：165~1100nm
測定レンジ：0~5Abs
